DHS 640 真空衰减法检漏仪 无损检漏 双传感器双循环技术 包装密封测试仪

                     DHS 640 真空衰减法检漏仪 无损检漏 双传感器双循环技术 包装密封测试仪      真空衰减法密封检漏 适用于各种产品和包装形式，尤其适用于测试容器填充干产品（冻干西林瓶、粉末填充）的气漏以及测试液漏（非蛋白质基质的液体填充西林瓶、预灌封注射器），完全符合ASTM测试方法和FDA标准。

 真空衰减法原理

     检漏仪由主机和测试腔体组成，将待测包装容器放入测试腔体，对测试腔体抽真空，容器内外压差使得容器内气体通过漏孔进入测试腔体，真空衰减法检漏仪内的压力传感器监测到压力的改变，将该压力值和参考压力值做比较，以判定包装容器是否泄漏。通过微型流量计建立压力和漏孔之间的关系，从而可以获得包装容器的漏孔大小。试验流程：1、将试样放入测试腔体，根据设定的真空度对测试腔进行抽真空。在抽真空阶段，如果在抽真空时间内，实际真空度无法达到参考真空度，那么包装有大漏。2、在保压阶段，如果在保压时间内，实际真空度无法达到参考真空度，那么包装有中漏。3、在测试阶段，如果实际真空衰減率值大于参考真空衰減率值，那么包装有微漏。

     真空衰减法检漏仪检测微小漏孔，尤其是广泛用于医药包装产品的完整性检测，可